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想要了解抗干扰介质损耗测试仪的设备结构看这篇文章就行
点击次数:162 发布时间:2021-06-11

    抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容器容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容器容量(Cx)它淘汰了QS高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度最快)体积小、重量轻等特点。

    抗干扰介质损耗测试仪的仪器结构:

    测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。

    控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。

    变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。

    升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压,最大无功输出2KVA/1分钟。

    标准电容器:内Cn,测量基准。

    Cn电流检测:用于检测内标准电容器电流,10μA~1A。输入电阻<2Ω。

    Cx正接线电流检测:只用于正接线测量,10μA~1A。输入电阻<2Ω。

    Cx反接线电流检测:只用于反接线测量,10μA~1A。输入电阻<2Ω。

    反接线数字隔离通讯:采用精密MPPM数字调制解调器,将反接线电流信号。

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