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想要了解抗干扰介质损耗测试仪的设备结构看这篇文章就行
点击次数：1800 更新时间：2021-06-11
抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容器容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容器容量（Cx）它淘汰了QS高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度最快）体积小、重量轻等特点。
抗干扰介质损耗测试仪的仪器结构：
测量电路：傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。
控制面板：打印机、键盘、显示和通讯中转。
变频电源：采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。
升压变压器：将变频电源输出升压到测量电压，最大无功输出2KVA/1分钟。
标准电容器：内Cn，测量基准。
Cn电流检测：用于检测内标准电容器电流，10μA～1A。输入电阻<2Ω。
Cx正接线电流检测：只用于正接线测量，10μA～1A。输入电阻<2Ω。
Cx反接线电流检测：只用于反接线测量，10μA～1A。输入电阻<2Ω。
反接线数字隔离通讯：采用精密MPPM数字调制解调器，将反接线电流信号。
